Інтеґральна багатопараметрична дифрактометрія наносистем на основі ефектів багатократности дифузного розсіяння
А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Б. Молодкін, В. Л. Носик, С. В. Дмитрієв, Є. Г. Лень, С. Й. Оліховський, Г. І. Низкова, В. В. Молодкін, К. В. Первак, А. А. Катасонов, Л. И. Нінічук, А. В. Мельник
т. 10, с. 229-281 (2009)

Енергетичний спектер і електропровідність систем із сильними електронними кореляціями
С. П. Репецький, В. Б. Молодкін, І. Г. Вишивана, Є. Г. Лень, І. М. Мельник, О. І. Мусієнко, Б. В. Стащук
т. 10, с. 283-330 (2009)