Інтеґральна багатопараметрична дифрактометрія наносистем на основі ефектів багатократности дифузного розсіяння
А. П. Шпак$^{1}$, М. В. Ковальчук$^{2}$, В. Б. Молодкін$^{1}$, В. Л. Носик$^{2}$, С. В. Дмитрієв$^{1}$, Є. Г. Лень$^{1}$, С. Й. Оліховський$^{1}$, Г. І. Низкова$^{1}$, В. В. Молодкін$^{1}$, К. В. Первак$^{1}$, А. А. Катасонов$^{1}$, Л. И. Нінічук$^{1}$, А. В. Мельник$^{1}$
$^1$Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^2$Інститут кристалографії ім. О.В. Шубнікова РАН, Ленінський просп., 59, 119333 Москва, РФ
Отримана: 06.08.2009. Завантажити: PDF
В роботі викладено узагальнену динамічну теорію Бреґґового та дифузного розсіянь Рентґенових променів у кристалах з дефектами декількох типів. Розглянуто вирази для диференційної та інтеґральної інтенсивностей розсіяння, котрі пов’язують їх з характеристиками дефектів у кристалах, при дифракції як на відбиття, так і на проходження. Описано екстинкційні ефекти за рахунок розсіяння на дефектах без обмежень на їх розміри в когерентнім і дифузнім розсіяннях за малих і великих ефектів дифузної екстинкції для диференційного й інтеґральних коефіцієнтів та факторів екстинкції за рахунок багатократности розсіяння на флюктуаційних відхиленнях від періодичности кристалічних ґратниць. На основі побудованої динамічної теорії, у її порівнянні з кінематичною, створено нову фізичну концепцію, яка дозволила розкрити та детально проаналізувати фізичну природу відкритих явищ, що обумовлюють, з одного боку, принципове обмеження інформативности кінематичної картини розсіяння, а з іншого боку, радикальне підвищення інформативности картини динамічного розсіяння. Показано, що це підвищення інформативности обумовлене відкритим явищем дуже істотної залежности від умов дифракції характеру впливу дефектів на динамічну картину, що принципово не має місця в кінематичному випадку. Показано унікальні діягностичні можливості створеної інтеґральної дифузнодинамічної комбінованої дифрактометрії (ІДДКД), що обумовлені цим явищем та рядом наслідків із нього. Зокрема, показано якісно нові можливості здійснення вперше багатопараметричної діягностики матеріялів та виробів нанотехнологій. При цьому на основі побудованої теорії створено моделі високоінформативної ІДДКД для аналізи стрибків інтенсивностей поблизу $K$-краю вбирання та відхилів від Фрідельового закону, а також їх деформаційних і товщинних залежностей. Виконано експериментальну апробацію створених моделів.
Ключові слова: кристали з дефектами, когерентне та дифузне розсіяння, кінематична й динамічна картини розсіяння, неруйнівна багатопараметрична діягностика.
PACS: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 81.07.Bc
Citation: A. P. Shpak, M. V. Kovalchuk, V. B. Molodkin, V. L. Nosik, S. V. Dmitriev, E. G. Len, S. J. Olikhovskyi, G. I. Nyzkova, V. V. Molodkin, K. V. Pervak, A. A. Katasonov, L. I. Ninichuk, and A. V. Melnyk, Integral Multiparameter Diffractometry of Nanosystems on the Basis of Effects of Multiplicity of Diffuse Scattering, Usp. Fiz. Met., 10, No. 3: 229—281 (2009) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.10.03.229