Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния
А. П. Шпак$^{1}$, М. В. Ковальчук$^{2}$, В. Б. Молодкин$^{1}$, В. Л. Носик$^{2}$, С. В. Дмитриев$^{1}$, Е. Г. Лень$^{1}$, С. И. Олиховский$^{1}$, А. И. Низкова$^{1}$, В. В. Молодкин$^{1}$, Е. В. Первак$^{1}$, А. А. Катасонов$^{1}$, Л. И. Никитчук$^{1}$, А. В. Мельник$^{1}$
$^1$Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина
$^2$Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Ленинский просп., 59, 119333 Москва, РФ
Получена: 06.08.2009. Скачать: PDF
В работе изложена обобщенная динамическая теория брэгговского и диффузного рассеяний рентгеновских лучей в кристаллах с дефектами нескольких типов. Рассмотрены выражения для дифференциальной и интегральной интенсивностей рассеяния, связывающие их с характеристиками дефектов в кристаллах при дифракции, как на отражение, так и на прохождение. Описаны экстинкционные эффекты за счет рассеяния на дефектах без ограничений на их размеры в когерентном и диффузном рассеяниях при малых и больших эффектах диффузной экстинкции для дифференциального и интегральных коэффициентов и факторов экстинкции за счет многократности рассеяния на флуктуационных отклонениях от периодичности решеток кристаллов. На основе построенной динамической теории, при ее сравнении с кинематической, создана новая физическая концепция, которая позволила раскрыть и детально проанализировать физическую природу обнаруженных явлений, обуславливающих, с одной стороны, принципиальное ограничение информативности кинематической картины рассеяния, а с другой стороны, радикальное повышение информативности картины динамического рассеяния. Показано, что это повышение информативности обусловлено обнаруженным явлением очень существенной зависимости от условий дифракции характера влияния дефектов на динамическую картину, что не имеет места принципиально в кинематическом случае. Показаны обусловленные этим явлением и рядом следствий из него уникальные диагностические возможности созданной интегральной диффузнодинамической комбинированной дифрактометрии (ИДДКД). В частности, показаны качественно новые возможности реализации впервые многопараметрической диагностики материалов и изделий нанотехнологий. При этом на основе построенной теории созданы модели высокоинформативной ИДДКД для анализа скачков интенсивности вблизи $K$-края поглощения и отклонений от закона Фриделя, а также их деформационных и толщинных зависимостей. Проведена экспериментальная апробация созданных моделей.
Ключевые слова: кристаллы с дефектами, когерентное и диффузное рассеяние, кинематическая и динамическая картины рассеяния, неразрушающая многопараметрическая диагностика.
PACS: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 81.07.Bc
Citation: A. P. Shpak, M. V. Kovalchuk, V. B. Molodkin, V. L. Nosik, S. V. Dmitriev, E. G. Len, S. J. Olikhovskyi, G. I. Nyzkova, V. V. Molodkin, K. V. Pervak, A. A. Katasonov, L. I. Ninichuk, and A. V. Melnyk, Integral Multiparameter Diffractometry of Nanosystems on the Basis of Effects of Multiplicity of Diffuse Scattering, Usp. Fiz. Met., 10, No. 3: 229—281 (2009) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.10.03.229