Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния
А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Б. Молодкин, В. Л. Носик, С. В. Дмитриев, Е. Г. Лень, С. И. Олиховский, А. И. Низкова, В. В. Молодкин, Е. В. Первак, А. А. Катасонов, Л. И. Никитчук, А. В. Мельник
т. 10, с. 229-281 (2009)

Энергетический спектр и электропроводность систем с сильными электронными корреляциями
С. П. Репецкий, В. Б. Молодкин, И. Г. Вышиваная, Е. Г. Лень, И. Н. Мельник, О. И. Мусиенко, Б. В. Стащук
т. 10, с. 283-330 (2009)