Вторинно-йонна емісія: матричний ефект
В. Т. Черепін$^{1}$, М. О. Васильєв$^{1}$, С. І. Сидоренко$^{2}$, С. М. Волошко$^{2}$, І. О. Круглов$^{2}$
$^1$Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^2$Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», просп. Перемоги, 37, 03056 Київ, Україна
Отримана: 20.08.2018; остаточний варіант - 18.10.2018. Завантажити: PDF
У статті описано фізичну природу залежности ймовірности йонізації розпорошених атомів від атомарної й електронної структур металевої мішені, бомбардовуваної йонами нейтральних газів (матричний ефект). Проведено систематичну аналізу літературних даних і результатів авторів даного огляду, одержаних при дослідженні вторинної йонної емісії (ВЙЕ) чистих металів, розбавлених твердих розчинів і концентрованих стопів. Практичну важливість таких досліджень зумовлено тим, що явище ВЙЕ є основою унікальної методи хемічної, ізотопної та фізико-хемічної аналізи не лише металевих матеріялів, але також напівпровідників і органічних речовин. Встановлено високу чутливість ВЙЕ до зміни сил міжатомової взаємодії та параметрів електронної структури. Систематичні дані щодо «ефекту матриці» в емісії вторинних йонів можуть бути основою створення унікальної кількісної методи визначення енергії зв’язку різноманітних атомів у складі багатокомпонентних матеріялів.
Ключові слова: металеві стопи, вторинно-йонна емісія, мас-спектрометрія, хемічна аналіза, ізотопи, енергія зв’язку, електронна структура.
PACS: 07.75.+h, 34.35.+a, 41.75.Ak, 61.80.Lj, 68.49.Sf, 79.20.Rf, 82.80.Ms
Citation: V. T. Cherepin, M. O. Vasylyev, S. I. Sidorenko, S. M. Voloshko, and І. O. Kruhlov, The Secondary-Ion Emission: Matrix Effect, Usp. Fiz. Met., 19, No. 4: 418—441 (2018) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.19.04.418