Випуски УФМ »  Том 7, випуск 1

Формування плазмонів у спектрах вторинно-електронної емісії за низькоенергетичного опромінення електронами поверхні стопу Pt$_{80}$Co$_{20}$(111)

М. О. Васильєв, В. О. Тіньков, С. В. Червонний

Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна

Отримана: 02.12.2005. Завантажити: PDF

Методою низькоенергетичної спектроскопії характеристичних втрат енергії електронів досліджено формування плазмонів у спектрах вторинної електронної емісії у стопі Pt$_{80}$Co$_{20}$(111), що упорядковується. Запропоновано спосіб визначення роздільчої межи «поверхня—об’єм» за залежностями інтенсивности ліній поверхневих та об’ємних плазмонів від енергій первинних електронів у діяпазоні 150—700 еВ. Знайдено, що товщина приповерхневого нанорозмірного шару для невпорядкованого стопу Pt$_{80}$Co$_{20}$(111) вдвічі більше, ніж для впорядкованого стану. Встановлено також, що при впорядкуванні даного стопу в плазмових коливаннях бере участь більша кількість електронів провідности.

Ключові слова: стоп Pt$_{80}$Co$_{20}$, впорядкування, поверхневі плазмони, об’ємні плазмони, характеристичні втрати енергії електронів.

PACS: 71.45.Gm, 72.30.+q, 73.20.Mf, 73.50.Mx, 79.20.Hx, 79.20.Uv, 82.80.Pv

Citation: M. O. Vasylyev, V. O. Tin’kov, and S. V. Chervonny, Formation of Plasmons in Secondary-Electron Emission Spectra at a Low-Energy Electron Radiation of a Surface of a Pt$_{80}$Co$_{20}$(111) Alloy, Usp. Fiz. Met., 7, No. 1: 41—52 (2006) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.07.01.041

Цитована література (19)  
  1. M. O. Vasylyev and S. I. Sidorenko, Diffusion and Surface Segregation (Kyiv: Ministry Education of Ukraine: 1998).
  2. Y. Gauthier, Surf. Rev. and Lett., 3, No. 5&6: 1663 (1996). Crossref
  3. А. Р. Шульман, С. А. Фридрихов, Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела (Москва: Наука: 1977).
  4. М. А. Васильев, Структура и динамика поверхности переходных металлов (Киев: Наукова думка: 1988).
  5. В. Т. Черепин, М. А. Васильев, Методы и приборы для анализа поверхности материалов: Справочник (Киев: Наукова думка: 1982).
  6. Д. Пайнс, Элементарные возбуждения в твердых телах. (Москва: Мир: 1965).
  7. Л. Фелдман, Д. Майер, Основы анализа поверхности и тонких пленок (Москва: Мир: 1989).
  8. Y. Gauthier, R. Baudoing-Savois, and J. M. Bugnard, Surf. Sci., 276: 1 (1992). Crossref
  9. M. A. Vasylyev, V. A. Tinkov, A. G. Blaschuk, J. Luyten, and C. Creemers, Appl. Surf. Sci. (2006) (in press).
  10. А. П. Шпак, М. А. Васильев, В. А. Тиньков, Металлофиз. новейшие технол., 26, № 6: 765 (2004).
  11. M. A. Vasil’ev and S. D. Gorodetsky, Vacuum, 37, No. 10: 723 (1987).
  12. M. P. Seah and W. A. Dench, Surf. Interface Anal., 1, No. 1: 2 (1979).
  13. J. O. Porteus and W. N. Faith, Phys. Rev., 12: 2097 (1975). Crossref
  14. A. D. Boardman, B. V. Paranjape, and R. Teshima, Surf. Sci., 49: 275 (1975). Crossref
  15. B. Lang, Surf. Sci., 66: 527 (1977).
  16. W. S. M. Werner, Surf. Sci., 526: L159 (2003). Crossref
  17. Э. Ф. Чайковский, В. С. Редькин, В. В. Зашквара, В. Т. Сотников., ФТТ, 15: 1947 (1973).
  18. D. E. Edward and F. M. Propst., J. Chem. Phys., 55: 5175 (1971). Crossref
  19. В. В. Кораблев, ФТТ, 12: 1638 (1970).
Цитується (1)
  1. V. O. Tin’kov, Usp. Fiz. Met. 7, 117 (2006).

© 2013–2018 «ІМФ НАН України»