Формирование плазмонов в спектрах вторично-электронной эмиссии при низкоэнергетическом облучении электронами поверхности сплава Pt$_{80}$Co$_{20}$(111)

М. А. Васильев, В. А. Тиньков, С. В. Червонный

Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова НАН Украины, бульв. Академика Вернадского, 36, 03142 Киев, Украина

Получена: 02.12.2005. Скачать: PDF

Методом низкоэнергетической спектроскопии характеристических потерь энергии электронов исследовано формирование плазмонов в спектрах вторично-электронной эмиссии в упорядочивающемся сплаве Pt$_{80}$Co$_{20}$(111). Предложен способ определения границы раздела «поверхность—объем» по зависимостям интенсивности линий поверхностных и объемных плазмонов от энергий первичных электронов в диапазоне 150—700 эВ. Найдено, что толщина приповерхностного наноразмерного слоя для неупорядоченного сплава Pt$_{80}$Co$_{20}$(111) больше в 2 раза, чем для упорядоченного состояния. Установлено также, что при упорядочении данного сплава в плазменных колебаниях принимает участие большее количество электронов проводимости.

Ключевые слова: сплав Pt$_{80}$Co$_{20}$, упорядочение, поверхностные плазмоны, объемные плазмоны, характеристические потери энергии электронов.

PACS: 71.45.Gm, 72.30.+q, 73.20.Mf, 73.50.Mx, 79.20.Hx, 79.20.Uv, 82.80.Pv

Citation: M. O. Vasylyev, V. O. Tin’kov, and S. V. Chervonny, Formation of Plasmons in Secondary-Electron Emission Spectra at a Low-Energy Electron Radiation of a Surface of a Pt$_{80}$Co$_{20}$(111) Alloy, Usp. Fiz. Met., 7, No. 1: 41—52 (2006) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.07.01.041


Цитированная литература (19)  
  1. M. O. Vasylyev and S. I. Sidorenko, Diffusion and Surface Segregation (Kyiv: Ministry Education of Ukraine: 1998).
  2. Y. Gauthier, Surf. Rev. and Lett., 3, No. 5&6: 1663 (1996). Crossref
  3. А. Р. Шульман, С. А. Фридрихов, Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела (Москва: Наука: 1977).
  4. М. А. Васильев, Структура и динамика поверхности переходных металлов (Киев: Наукова думка: 1988).
  5. В. Т. Черепин, М. А. Васильев, Методы и приборы для анализа поверхности материалов: Справочник (Киев: Наукова думка: 1982).
  6. Д. Пайнс, Элементарные возбуждения в твердых телах. (Москва: Мир: 1965).
  7. Л. Фелдман, Д. Майер, Основы анализа поверхности и тонких пленок (Москва: Мир: 1989).
  8. Y. Gauthier, R. Baudoing-Savois, and J. M. Bugnard, Surf. Sci., 276: 1 (1992). Crossref
  9. M. A. Vasylyev, V. A. Tinkov, A. G. Blaschuk, J. Luyten, and C. Creemers, Appl. Surf. Sci. (2006) (in press).
  10. А. П. Шпак, М. А. Васильев, В. А. Тиньков, Металлофиз. новейшие технол., 26, № 6: 765 (2004).
  11. M. A. Vasil’ev and S. D. Gorodetsky, Vacuum, 37, No. 10: 723 (1987).
  12. M. P. Seah and W. A. Dench, Surf. Interface Anal., 1, No. 1: 2 (1979).
  13. J. O. Porteus and W. N. Faith, Phys. Rev., 12: 2097 (1975). Crossref
  14. A. D. Boardman, B. V. Paranjape, and R. Teshima, Surf. Sci., 49: 275 (1975). Crossref
  15. B. Lang, Surf. Sci., 66: 527 (1977).
  16. W. S. M. Werner, Surf. Sci., 526: L159 (2003). Crossref
  17. Э. Ф. Чайковский, В. С. Редькин, В. В. Зашквара, В. Т. Сотников., ФТТ, 15: 1947 (1973).
  18. D. E. Edward and F. M. Propst., J. Chem. Phys., 55: 5175 (1971). Crossref
  19. В. В. Кораблев, ФТТ, 12: 1638 (1970).
Цитируется (1)
  1. V. O. Tin’kov, Usp. Fiz. Met. 7, 117 (2006).