Фізична природа та нові можливості використання ефектів асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції для діягностики кристалів з порушеним поверхневим шаром і дефектами
В. Б. Молодкін, Г. І. Низкова, Є. І. Богданов, С. Й. Оліховський, С. В. Дмітрієв, М. Г. Толмачов, В. В. Лізунов, Я. В. Василик, А. Г. Карпов, О. Г. Войток
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
Отримана: 28.02.2017; остаточний варіант - 27.03.2017. Завантажити: PDF
Обговорюються результати виявлення та розкриття фізичної природи нового ефекту асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) Рентґенових променів за рахунок не порушеного поверхневого шару (ППШ), що описано авторами в попередній роботі, а великих дефектів (сумірних із довжиною екстинкції Рентґенових променів). Такий новий ефект асиметрії зумовлено зменшенням дифузної складової ПІІДД за рахунок повного в області Бреґґового піку відбивання цієї складової, відносний внесок якого збільшується зі зростанням розміру дефектів. При цьому така асиметрія, як виявилося, має протилежний знак у порівнянні з викликаною ППШ, що принципово поліпшує діягностичні функціональні можливості при спільному використанні цих ефектів. Обговорюються також результати створення на основі виявлених двох ефектів асиметрії методи багатопараметричної діягностики одночасно і товщини ППШ, і характеристик дефектів без обмежень на їх розміри та кількість їх типів.
Ключові слова: Рентґенові промені, повна інтеґральна інтенсивність, динамічна дифракція, порушений поверхневий шар, великі дефекти, асиметрія азимутальної залежности.
PACS: 07.85.Jy, 61.05.C-, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.J-, 81.70.Ex
Citation: V. B. Molodkin, H. I. Nizkova, Ye. I. Bogdanov, S. I. Olikhovskii, S. V. Dmitriev, M. G. Tolmachev, V. V. Lizunov, Ya. V. Vasylyk, A. G. Karpov, and O. G. Voytok, The Physical Nature and New Capabilities of Use of Effects of Asymmetry of Azimuthal Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction for Diagnostics of Crystals with the Disturbed Surface Layer and Defects, Usp. Fiz. Met., 18, No. 2: 177—204 (2017) (in Ukrainian), doi: 10.15407/ufm.18.02.177