Випуски УФМ »  Том 11, випуск 1

Способи фокусування Рентґенового випромінення

В. Ю. Сторіжко$^{1}$, М. В. Ільяшенко$^{1}$, В. Б. Молодкін$^{2}$, О. Ю. Гаєвський$^{2}$, В. Л. Денисенко$^{1}$, О. І. Денисенко$^{1}$, С. О. Вершинський$^{1}$

$^1$Інститут прикладної фізики НАН України, вул. Петропавлівська, 58, 40000 Суми, Київ
$^2$Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна

Отримана: 16.10.2009. Завантажити: PDF

Розглянуто фізичні основи фокусування Рентґенового випромінення та технологічні вимоги до рентґенооптичних систем. Систематизовано дані про різні способи фокусування та аналізи Рентґенового випромінення, їх застосування, параметри існуючих і перспективних пристроїв. Проаналізовано переваги та недоліки існуючих методик.

Ключові слова: Рентґенове випромінення, рентґенооптична система.

PACS: 07.85.Qe, 07.85.Tt, 41.50.+h, 61.05.cp, 68.37.Yz, 81.70.-q, 87.59.-e

Citation: V. Yu. Storizhko, M. V. Il’yashenko, V. B. Molodkin, O. Yu. Gayevsky, V. L. Denysenko, O. I. Denysenko, and S. O. Vershynsky, Techniques for X-Ray Focusing, Usp. Fiz. Met., 11, No. 1: 1—17 (2010) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.11.01.001

Цитована література (51)  
  1. Дж. Х. Андервуд, Д. Т. Аттвуд, УФН, 151, № 1: 105 (1987).
  2. М. И. Мазурицкий, Соросовский образовательный журнал, 7, № 10: 95 (2001).
  3. А. Мишетт, Оптика мягкого рентгеновского излучения (Москва: Мир: 1989).
  4. М. А. Блохин, Методы рентгеноспектральных исследований. (Москва: Изд. физ.-мат. лит.: 1959).
  5. Г. Шмаль, Д. Рудольф, Рентгеновская оптика и микроскопия (Москва: Мир: 1987).
  6. Р. Джеймс, Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей (Москва: Изд. иностр. лит.: 1950).
  7. В. А. Чуриков, Письма в ЖТФ, 29, № 23: 75 (2003).
  8. Н. А. Власов, Нейтроны (Москва: Наука: 1971).
  9. В. А. Аркадьев, А. И. Коломийцев, М. А. Кумахов, И. Ю. Пономарев, И. А. Ходеев, Ю. П. Чертов, И. М. Шахпаронов, УФН, 157, № 3: 529 (1989). Crossref
  10. М. А. Кумахов, Излучение каналированых частиц в кристаллах (Москва: Энергоатомиздат: 1986).
  11. Г. Р. Алимов, М. А. Кумахов, А. Т. Муминов, ЖТФ, 77, № 9: 123 (2007).
  12. А. Ю. Романов, Письма в ЖТФ, 32, № 4: 51 (2006).
  13. А. Ю. Романов, Письма в ЖТФ, 30, № 23: 32 (2004).
  14. А. Ю. Романов, Письма в ЖТФ, 31, № 5: 47 (2005).
  15. В. Д. Гелевер, А. Ю. Романов, Письма в ЖТФ, 31, № 5: 52 (2005).
  16. А. Ю. Романов, И. В. Дмитриев, А. Ю. Акулов, Инженерная физика, № 1: 43 (2004).
  17. Б. Ненсель, Ф. Рёссигер, Электроника: НТБ, № 5: 50 (2001).
  18. М. А. Блохин, Физика рентгеновских лучей (Москва: ГИТТЛ: 1957).
  19. Ю. И. Дудчик, Ф. Ф. Комаров, Я. А. Константинов, ЖТФ, 68, № 5: 90 (1998).
  20. В. В. Аристов и др., Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 1: 13 (2001).
  21. A. A. Snigirev et al., Proc. SPIE ‘Design and Microfabrication of Novel X-Ray Optics’ (Seattle: 2002), vol. 4783, p. 1.
  22. Ю. И. Дудчик, Н.Н. Кольчевский, Ф.Ф. Комаров, Письма в ЖТФ, 24, № 24: 19 (1998).
  23. Ю. И. Дудчик, Л. А. Власункова, Ф. Ф. Комаров, О. Л. Войтик, К. И. Делендик, А. А. Снигирев, И. И. Снигирева, М. В. Григорьев, 7-я междунар. конф. «Взаимодействие излучений с твердым телом» (Минск: 2007), с. 248.
  24. А. В. Куюмчан, В. Г. Кон, И. И. Снигирева, А. А. Снигирев, А. А. Исоян, С. М. Кузнецов, В. В. Аристов, Е. Шулаков, Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 2: 29 (2006).
  25. V. G. Kohn, I. Snigireva, A. Snigirev, Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 1: 33 (2003).
  26. A. A. Snigirev et al., Proc. SPIE ‘High Heat Flux and Synchrotron Radiation Beamlines’ (San Diego: 1997), vol. 3151, p. 164.
  27. A. Snigirev, V. Kohn, I. Snigireva, and B. Lengeler, Nature, No. 384: 49 (1996). Crossref
  28. I. Snigireva et al., Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 467–468: 982 (2001). Crossref
  29. I. Snigireva et al., Proc. SPIE ‘X-Ray Micro- and Nano-Focusing: Applications and Techniques II’ (San Diego: 2001), vol. 4499, p. 64.
  30. I. Snigireva, V. Kohn, and A. Snigirev, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 467–468: 925 (2001). Crossref
  31. A. Snigirev et al., Appl. Opt., 37, No. 4: 653 (1998). Crossref
  32. В. В. Аристов, Л. Г. Шабельников, УФН, 178, № 1: 61 (2008). Crossref
  33. В. В. Аристов и др., Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 1: 7 (1999).
  34. L. G. Shabel’nikov et al., J. Phys. IV, 104: 227 (2003). Crossref
  35. Л. Г. Шабельников, Материалы нац. совещ. «Рентгеновская оптика — 2002» (март 2002 г.) (Н. Новгород: Ин-т физики микроструктур РАН: 2002), с. 80.
  36. Л. Г. Шабельников, И. А. Щелоков, В. А. Юнкин, Ю. Н. Пальянов, А. Ф. Хохряков, Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 1: 41 (2002).
  37. В. В. Аристов и др., Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 1: 79 (1999).
  38. В. В. Аристов, М. В. Григорьев, С. М. Кузнецов, Л. Г. Шабельников, Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., № 1: 89 (2001).
  39. В. В. Аристов, Г. А. Павлов, Л. Г. Шабельников, Способ изготовления рентгеновских преломляющих линз (Патент РФ № 2298852. 10 мая 2007).
  40. L. Shabel’nikov et al., Proc. SPIE ‘Design and Microfabrication of Novel X-Ray Optics’ (Seattle: 2002), vol. 4783, p. 55.
  41. Л. Г. Шабельников, Способ изготовления рентгеновских преломляющих линз профилем вращения (Патент № 2297681. 20 апреля 2007).
  42. Т. Чен, Письма в ЖТФ, 28, № 18: 29 (2002).
  43. Т. Чен, ЖТФ, 72, № 6: 5 (2002).
  44. Т. Чен, Письма в ЖТФ, 28, № 6: 1 (2002).
  45. W. Hoppe, Acta Cryst., A25: 508 (1969). Crossref
  46. R. Hegerl and W. Hoppe, Ber. Bunsen-Ges, Phys. Chem. 74: 1148 (1970). Crossref
  47. J. M. Rodenburg et al., Phys. Rev. Lett., 98, No. 3 (2007). Crossref
  48. I. Johnson et al., Phys. Rev. Lett., 100, No. 15 (2008).
  49. А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин, Приборы и техника эксперимента, № 5: 90 (2000).
  50. A. Snigirev et al., Phys. Rev. Lett., 103, No. 6 (2009). Crossref
  51. Ф. К. Алиев, Г. Р. Алимов, А. Т. Муминов, Б. С. Османов, В. В. Скворцов, ЖТФ, 75, № 8: 90 (2005).

© 2013–2018 «ІМФ НАН України»