Випуски УФМ »  Том 8, випуск 4

Структурно-фазовий стан, стабільність інтерфейсів і електрофізичні властивості двошарових плівкових систем

С. І. Проценко, І. В. Чешко, Д. В. Великодний, І. В. Пазуха, Л. В. Однодворець, І. Ю. Проценко, О. В. Синашенко

Сумський державний університет, вул. Римського-Корсакова, 2, 40007 Суми, Україна

Отримана: 13.09.2007. Завантажити: PDF

Представлено узагальнені літературні дані та результати власних експериментальних досліджень структурно-фазового стану, стабільности інтерфейсів та електрофізичних властивостей (термічний коефіцієнт опору (ТКО) і коефіцієнт поздовжньої тензочутливости (КТ)) двошарових плівкових систем Cu/(Co, Ag або Au), Cu/(Cr або Fe) та Fe/Cr. Вибір вказаних систем пов’язаний із стабілізацією в них різних структурно-фазових станів: ґранульованих твердих розчинів (систем на основі Cu і Co, Ag або Au), твердого розчину (Fe/Cr), двошарових систем із збереженням індивідуальности окремих шарів (біпластин) (систем Cu/Cr i Cu/Fe (до 700 К)). Експериментальні результати з ТКО і КТ задовільно або добре узгоджуються зі співвідношеннями для ТКО і КТ біпластини, плівкового стопу або двошарової системи із проміжним шаром твердого розчину біля інтерфейсу. Це служить додатковим арґументом на користь висновків про структурно-фазовий стан двошарової системи.

Ключові слова: інтерфейс, структурно-фазовий стан, твердий розчин, ґранульований стоп, ТКО, коефіцієнт тензочутливости.

PACS: 68.35.Ct, 68.55.Jk, 68.55.Nq, 68.60.Dv, 73.40.Jn, 73.61.At, 73.63.Bd

Citation: S. I. Protsenko, I. V. Cheshko, D. V. Velykodnyj, I. V. Pazukha, L. V. Odnodvorets’, I. Yu. Protsenko, and O. V. Synashenko, Structural-Phase State, Stability of Interfaces and Electrophysical Properties of Two-Layer Film Systems, Usp. Fiz. Met., 8, No. 4: 247—278 (2007) (in Ukrainian), doi: 10.15407/ufm.08.04.247

Цитована література (62)  
  1. Ш. Ковач, Б. Дани, С. Р. Тейгзейра и др., ФММ, 79, №1: 98 (1995).
  2. І. Ю. Проценко, І. В. Чешко, Я. Яворський, Вісник СумДУ, №10 (69): 65 (2004).
  3. В. В.Скороход, І. В. Уварова, А. В. Рагуля, Фізико-хімічна кінетика в наноструктурних системах (Київ: Академперіодика: 2001).
  4. В. І. Дибков, Твердофазна хімічна кінетика і реакційна дифузія (Київ: ІПМ: 2002).
  5. С. П. Чижик, Н. Т. Гладких, Л. К. Григорьева и др., Металлы, №2: 175 (1985).
  6. В. П. Ампилогов, Рост и структура наноразмерных ориентированных гетероструктур с органической взаимной растворимостью компонентов (Дис. … канд. физ.-мат. наук) (Воронеж: ВГТУ: 2007).
  7. M. Kitada, J. Magnet. Magn. Mat., 208: 244 (2000).
  8. A. Aziz, S. M. Thompson, K. Ounadjela et al., J. Magnet. Magn. Mat., 148: 313 (1995).
  9. K. Yamamoto and M. Kitada, Thin Solid Films, 263: III (1995). Crossref
  10. I. Protsenko, I. Cheshko, and Ja. Javorsky, Functional Materials, 13, No. 2: 219 (2006).
  11. G. H. Yang, K. W. Geng, F. Zeng et al., Thin Solid Films, 484: 283 (2005). Crossref
  12. M. Marszalek, I. Cheshko, O. Synashenko, and I. Protsenko, Book of Abstracts Workshop on Smoothing and Characterization of Magnetic Films for Advanced Devices (Krakow: AGH UST: 2007).
  13. С. М. Волошко, С. И. Сидоренко, И. Н. Макеева, Металлофиз. новейшие технол., 16, №10: 61 (1994).
  14. І. Ю. Проценко, А. М. Чорноус, І. О. Шпетний, Вісник Львівського національного університету. Серія фізична, №36: 116 (2003).
  15. И. А. Гарифуллин, Н. Н. Гарифьянов, Р. И. Салихов, Изв. РАН. Сер. физич., 71, №2: 280 (2007).
  16. В. В. Бібік, Л. В.Однодворець, І. О. Шпетний, Вісник СумДУ, №9 (93): 91 (2006).
  17. В. В. Бібік, Л. В. Однодворець, Н. І. Шумакова, С. І. Проценко, Вісник СумДУ, №6 (90): 47 (2006).
  18. S. Kundu, Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B, 242: 542 (2006).
  19. Y. Chushkin, M. Jergel, S. Luby et al., Appl. Sur. Sci., 243: 62 (2005). Crossref
  20. N. R. Shamsutdinov, A. J. Bottger, and F. D. Tichelaar, Scripta Mat., 54: 1727 (2006).
  21. Л. В. Дехтярук, І. Ю. Проценко, А. М. Чорноус, Успехи физ. мет., 8, №1: 21 (2007). Crossref
  22. Л. В. Дехтярук, І. М. Пазуха, І. Ю. Проценко, УФЖ, 51, №7: 729 (2006).
  23. Є. О. Забіла, Л. В. Однодворець, С. І.Проценко та ін., Вісник СумДУ, №8 (54): 71 (2003).
  24. І. М. Пазуха, С. І. Проценко, І. Ю. Проценко та ін., Вісник СумДУ, №9 (93): 7 (2006).
  25. S. Zang and P. M. Levy, Phys. Rev. B, 57, No. 9: 5336 (1998). Crossref
  26. R. Banerjee, R. Ahuja, S. Swaminathan et al., Thin Solid Films, 269: 29 (1995).
  27. P. F. Carsia and A. Suna, J. Appl. Phys., 54, No. 4: 2000 (1983).
  28. J. W. C. de Vries, Solid State Com., 65, No. 3: 201 (1988).
  29. О. Синашенко, І. Проценко, Тези доповідей Міжнародної конференції ЕВРИКА-2007 (Львів: ЛНУ: 2007).
  30. Ю. М. Овчаренко, Н. М.Опанасюк, І. Ю. Проценко та ін., УФЖ, 42, №7: 826 (1997).
  31. T. Lorenz, M. Moske, H. Geisler et al., Thin Solid Films, 275: 220 (1996).
  32. M. Gester, K. Ounadjela, J. F. Gregg et al., J. Magnet. Magn. Mat., 165: 323 (1997).
  33. E. Agostinelli, D. Fiorari, S. Foglia et al., Mat. Sci. and Engineering, 19: 151 (2002).
  34. J. A. De Toro, J. P. Anders, J. A. Gounzalez et al., Phys. Rev. B, 70: 224412-1 (2004). Crossref
  35. F. Stobiecki, B. Szymanski, T. Lucinski et al., J. Magnet. Magn. Mat., 202: 276 (2002).
  36. F. Spizzo, E. Angeli, D. Bisero et al., J. Magnet. Magn. Mat., 242–245: 473 (2002).
  37. Д. Л. Халяпин, Магнитные свойства и структура плёнок нанокристаллических сплавов Co–Cu, формируемых последовательным напылением компонентов. (Дис. … канд. физ.-мат. наук) (Красноярск: Ин-т физики СО РАН: 2005).
  38. K. Marszalek, M. Marszalek, S. Protsenko et al., Materialy Konferensyjna ‘COE 2006’ (Krakow–Zakopane: 2006).
  39. В. В. Бібік, Т. М. Гричановська, М. Маршалек та ін., Металлофиз. новейшие технол., 28, №6: 707 (2006).
  40. M. Marszalek, J. Jaworsi, M. Kas et al., Vacuum, 74: 287 (2004).
  41. З. Зиман, А. Ф. Сіренко, Основи фізичного матеріалознавства (Харків: ХНУ ім. В. Н. Каразіна: 2005).
  42. Л. В. Однодворец, С. И. Проценко, А. И. Салтыкова, Металлофиз. новейшие технол., 21, №8: 71 (1999).
  43. S. Kundu, Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B, 212: 489 (2003).
  44. M. Gonzales-Silveira, J. Rodriguez-Viejo, M. T. Clavaduera-Mora et al., Phys. Rev. B., 75: 075419-1 (2007).
  45. В. М. Федосюк, Д. И. Вильямс, Х. И. Блайт и др., Металлофиз. новейшие технол., 18, №11: 17 (1996).
  46. C. Oprea, A. P. Kobzev, M. Codescu et al., ION 2006 (Kazimiers Dolny: 2006)
  47. C. Oprea, A. P. Kobzev, M. Codescu et al., Vacuum, 2007 (to be published).
  48. В. В. Чернышов, С. Д. Калошкин, В. Н.Сердюк и др., ФММ, 97, №4: 71 (2004).
  49. P. Gorria, D. Martinez-Blanco, J. A. Blanko et al., Physica B, 384: 336 (2006).
  50. N. R. Shamsutrinov, A. J. Bottger, F. D. Tichelaar, Scripta Mater., 54: 1727 (2006).
  51. T. Koziel, Z. Kedzierski, A. Zielinska-Lipiec et al., Scripta Mater., 54: 1990 (2006).
  52. J. Y. Huang, J. Z. Jiang, H. Yasuda et al., Phys. Rev. B, 58, No. 18: 11817 (1998).
  53. Л. В. Однодворець, С. І. Проценко, А. М. Чорноус та ін., Успехи физ. мет., 8, №2: 109.
  54. С. І. Проценко, А. М. Чорноус, Металлофиз. новейшие технол., 25, №5: 587 (2003).
  55. Є. О. Забіла, І. Ю. Проценко, УФЖ, 50, №7: 729 (2005).
  56. С. Проценко, Матеріали XI Міжнародної конференції «Фізика і технологія тонких плівок і наносистем» (Івано-Франківськ.: ПрНУ: 2007), т. 1.
  57. G.-F. Wang, X.-Q. Feng, S. W. Yu et al., Mat. Sci. Eng. A, 363: 1 (2003).
  58. P. J. W. Janssen, Th. H. de Keijser, and M. g. D. Geers, Mat. Sci. Eng. A, 419: 238 (2006).
  59. D. Son, J.-H. Jeong, and D. Kwon, Thin Solid Films, 437: 182 (2003).
  60. D. Son, J.-j. Kim, T. W. Lim et al. Scripta Mater., 50: 1265 (2004).
  61. S. U. Jen and T. C. Wu, Thin Solid Films, 492: 166 (2005).
  62. Н. П. Клокова, Тензометрия (Москва: Машиностроение: 1990).

© 2013–2018 «ІМФ НАН України»