Випуски УФМ »  Том 2, випуск 1

Вплив двійникової мікроструктуриы кристалів з низькою тетрагональністю на дифрацію

А. І. Устінов$^{1}$, Л. О. Оліховська$^{1}$, Ж.-К. Ниєпс$^{2}$, Ф. Бернар$^{2}$

$^1$Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України, бульв. Академіка Вернадського, 36, 03142 Київ, Україна
$^2$UFR Sciences et Techniques, Universite de Bourgogne, 9 avenue Alain Savary, 21078 Dijon, France

Отримана: 08.09.2000. Завантажити: PDF

Методом Монте Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів моделювались з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. При певних значеннях параметрів цих функцій виявлено «критичні» ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дублету в одиночний пік або в мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дублета залежить від кількох параметрів, що характеризують двійникову мікроструктуру кристалу, а також ступеню тетрагональності.

Ключові слова: дифракція Рентґенових променів, дифузне розсіяння, тетрагональний кристал, двійники, сателіти.

PACS: 61.10Dp, 61.10.Eq, 61.66.Fn, 61.72.Bb, 61.72.Ff, 61.72.Mm

Citation: A. I. Ustinov, L. O. Olikhovs'ka, J.-C. Niepce, and F. Bernard, Influence of Twinning Microstructure of Crystals with Low Tetragonality on a X-Ray Diffraction, Usp. Fiz. Met., 2, No. 1: 51—84 (2001) (in Russian), doi: 10.15407/ufm.02.01.051

Цитована література (42)  
  1. K. H. Salje, Phase Transitions in Ferroelastic and Co-Elastic Crystals (Cambridge: Cambridge University Press: 1993).
  2. N. S. Afonnikova i dr., Fiz. tverd. tela, 29,vyp. 3: 813 (1987).
  3. V.A.Zhirnov, ZhETF, 35, vyp. 5(11): 1175 (1958).
  4. A. E. Jacobs, Phys. Rev. B, 31, No. 9: 5984 (1985). Crossref
  5. Yu. B. Gaididei, V. M. Loktev, and V. S. Nikolayev, Solid State Commun., 75, No. 6: 503 (1990). Crossref
  6. W. Cao and L. E. Cross, Phys. Rev. B, 44, No. 1: 8 (1991). Crossref
  7. W. Cao, Ferroelectrics, 172: 31 (1995). Crossref
  8. Ì. Yamamoto, K. Yagi, and G. Hanjo, Phys. Status Solidi, 41: 523 (1977). Crossref
  9. C. Roucau, M. Tanaka, J. Toress, and R. Agroles, J. Microscopy, 4: 603 (1979).
  10. C. Boulesteix, B. Yongui, G. Nihoul, and A. Barret, J. Microscopy, 129: 315 (1983). Crossref
  11. N. S. Afonnikova i dr., Fiz. tverd. tela, 2, vyp. 11: 3201 (1985).
  12. S. R. Andrew and R. A. Cowley, J. Phys. C: Solid State Physics, 19: 615 (1986). Crossref
  13. I. M. Shmyt’ko, V. Sh. Shekhtman, Y. A. Osipyan, and N. S. Afonikova, Ferroelectrics, 97: 151 (1989). Crossref
  14. Y. Zhu, M. Suenaga, and Y. Xu, Phil. Mag. Let., 60, No. 2: 51 (1989). Crossref
  15. Y. Zhu, M. Suenaga, Y. Xu, R. L. Salatini, and R. Modenlaugh, Appl. Phys. Lett., 54, No. 4: 373 (1989). Crossref
  16. Yu. A. Osip'yan i dr., Fiz. tverd. tela, 31, vyp.1: 254 (1989).
  17. Y. Zhu, M. Suenaga, and Y. Xu, J. Mater. Res., 5, No. 7: 1380 (1990). Crossref
  18. W. Cao and G. R. Barsh, Phys. Rev. B, 4: 4334 (1990).
  19. N. S. Afonnikova i dr., Fiz. tverd. tela, 33, vyp. 2: 358 (1991).
  20. F. Tsai, V. Khiznichenko, and J. M. Cowley, Ultramicroscopy, 45: 55 (1992). Crossref
  21. J. Chrosch and E. K. H. Salije, Physica C, 225: 111 (1994). Crossref
  22. B. Wruck, E. K. H. Salije, M. Zhang, T. Abraham, and U. Bismayer, Phase Transitions, 48: 135 (1994). Crossref
  23. S. Hayward, J. Chrosch, E. K. H. Salije, and M. Carpenter, European Journal of Min-eralogy, 8, No. 6: 1301 (1996). Crossref
  24. N. Floquet, C. M. Valot, M. T. Mesnier, J. C. Niepce, L. Normand, A. Thorel, and R. Kilaas, J. Phys. III (France), 1997, 7: Ð. 1105.
  25. C. Kittel, Phys. Rev., 70: 695 (1946).
  26. T. Mitsui and J. Furuichi, Phys. Rev., 90: 193 (1953). Crossref
  27. G. Arlt, Ferroelectrics, 104: 217 (1990). Crossref
  28. E. V. Chenskii, Sov. Phys.—Solid State, 14: 1940 (1973).
  29. H. I. Hsiang and Fu-Su. Yen, J. Am. Ceram. Soc., 79, No. 4: 1053 (1996). Crossref
  30. C. J. Lu, S. B. Ren, H. M. Shen, J. S. Liu, and Y. N. Wang, J. Phys.: Condens. Mat-ter., 8: 8011 (1996). Crossref
  31. W. Cao and C. A. Randal, J. Phys. Chem. Solids, 53, No. 10: 1499 (1996). Crossref
  32. V. S. Teodoroscu, E. C. Nistor, and S. V. Nistor, J. Appl. Phys., 67, No. 5: 2520 (1990). Crossref
  33. D. A. Mirzaev, Metallofizika, 4, vyp. 5: 26 (1982).
  34. A. I. Ustinov, L. A. Olikhovskaya, Metallofizika, 13, vyp. 10: 41 (1991).
  35. E. K. H. Salje and J. Chrosch, Ferroelectrics, 183: 85 (1996). Crossref
  36. A. I. Ustinov, J.-C. Niepce, L. A. Olikhovska, and F. Bernard, Proc. 6th European Conference on Powder Diffraction (Budapest: 1998), p. 109 (1999).
  37. L. D. Landau, ZhETF, 7, vyp. 11: 1227 (1937).
  38. A. J. C. Wilson, Proc. R. Soc. London, 1941, A180: 277.
  39. A. Guinier, X-Ray Diffraction in Crystals, Imperfect Crystals, and Amorphous Bodies (New York: Dover Publications: 1994), Chpt. 7.
  40. R. Berliner and S. A. Werner, Phys. Rev. B, 34: 3586 (1986). Crossref
  41. A. I. Bichinashvili i dr., Fiz. met. metalloved., 41, vyp. 1: 130 (1976).
  42. L. I. Lysak, Doklady AN SSSR, 22, vyp. 1: 76 (1975).

© 2013–2018 «ІМФ НАН України»