Роботу присвячено обговоренню відкритого авторами, невідомого раніше явища підсилення на кілька порядків величини прояву дефектів у статистичній картині багаторазового розсіяння, можливостей використання цього явища, а також встановленої авторами його дисперсійної природи. Відзначається, що на відміну від статистичної кінематичної теорії (наближення одноразового розсіяння), в якій дефекти проявляють свій вплив лише на амплітуди розсіяних хвиль (амплітуди розсіяння), за багаторазового (динамічного) розсіяння додатково формується принципово новий механізм впливу спотворень не на амплітуди, а на хвильові вектори розсіяних хвиль. Виявлений механізм експоненційно більш ефективний за рахунок впливу дефектів безпосередньо на показник експоненти (на фазу хвильової функції), а характер цього впливу дефектів виявляється керованим умовами дифракції (довжина хвилі, товщина об’єкту, геометрія і кути дифракції та ін.). У випадку найбільш простої та експресної інтеґральної дифрактометрії обговорюються встановлені раніше авторами два закони збереження (тобто незалежности від характеристик спотворень кристалу) першого параметра кінематичної теорії інтеґральних інтенсивностей, а саме, повної (Бреґґової та дифузної) інтеґральної інтенсивности розсіяння, і збереження (тобто незалежність від умов дифракції) другого параметра кінематичної теорії інтеґральних інтенсивностей, а саме, внеску дифузної складової в повну інтеґральну інтенсивність. Демонструється, що ці закони виявляються справедливими у випадку кінематичного розсіяння і істотно обмежують чутливість та інформативність кінематичної картини розсіяння. В той же час виявлений дисперсійний механізм впливу дефектів на картину багаторазового розсіяння призводить до орієнтаційно-інтерференційних ефектів у відбивній та поглинальній здатностях кристалів, що обумовлює порушення цих законів збереження при переході до випадків багаторазового розсіяння та забезпечує цим унікальні показники чутливости й інформативности діягностики на основі вимірювань повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції та її дифузної складової, а також їх залежностей від дифракційних умов. В результаті відкрите явище та цілий ряд ефектів, які з нього випливають, і його дисперсійна природа уможливили авторам статті істотно розширити функціональні можливості діягностики й створити цілий ряд методів нового покоління, які не лише на кілька порядків величини підвищили чутливість, але й уможливили розв’язати проблему однозначної діягностики багатопараметричних систем шляхом комбінування вимірювань картини багаторазового розсіяння за різних умов дифракції.