Випуски УФМ »  Том 13, випуск 3

Структурно-фазовий стан, електрофізичні та магнеторезистивні властивості твердих розчинів у плівкових системах на основі Co і Cu або Ag та Fe і Cr або Cu

Д. М. Кондрахова, Ю. М. Шабельник, О. В. Синашенко, І. Ю. Проценко

Сумський державний університет, вул. Римського-Корсакова, 2, 40007 Суми, Україна

Отримана: 27.03.2012. Завантажити: PDF

Наведено результати експериментальних досліджень структурно-фазового стану, електрофізичних і магнеторезистивних властивостей двокомпонентних плівкових систем на основі Co і Cu або Ag та Fe і Cr або Cu. Вибір цих систем пов’язаний із стабілізацією в них різних структурно-фазових стайнів: твердий розчин (системи на основі Fe і Cu або Cr) і ґранульований твейрдий розчин (системи на основі Co і Cu або Ag). Експериментальні резульйтати стосовно температурного коефіцієнта опору (ТКО) задовільно або добйре узгоджуються зі співвідношеннями для ТКО плівкового стопу або ґрайнульованого стопу. Це є додатковим арґументом на користь висновків про структурно-фазовий стан двокомпонентних систем. Магнетоопір (МО) дойсліджено у трьох геометріях міряння. Проаналізовано вплив термовідпалу зразків на величину МО, поля наситу, чутливости до магнетного поля.

Ключові слова: структурно-фазовий стан, твердий розчин, ґранульований стоп, ТКО, магнетоопір.

PACS: 68.37.Lp, 68.55.Nq, 68.65.-k, 73.50.Jt, 73.61.At, 75.47.Np, 81.05.Rm

Citation: D. M. Kondrakhova, Yu. M. Shabel’nyk, O. V. Synashenko, and I. Yu. Protsenko, Structure–Phase State, Electrophysical and Magnetoresistance Properties of Solid Solutions in Film Systems Based on Co and Cu or Ag, and Fe and Cr or Cu, Usp. Fiz. Met., 13, No. 3: 241—267 (2012) (in Ukrainian), doi: 10.15407/ufm.13.03.241

Цитована література (40)  
  1. G.-S. Chung, Sens. Actuators A, 135: 355 (2007).
  2. S. Tumanski, Thin Film Magnetoresistive Sensors (London: Institute of Physics Publishing: 2001).
  3. R. Trivedi, G. Mathur, and A. Mathur, Int. J. Soft Comp. Eng., 1: 23 (2011).
  4. Ш. Ковач, Б. Дани, С. Р. Тейгзейра, О. Редон, Физ. мет. металловед., 79, № 1: 98 (1995).
  5. І. Ю. Проценко, І. В.Чешко, Я. Яворський, Вісник СумДУ. Серія: Фізика, математика, механіка, 10 (69): 65 (2004).
  6. С. І. Проценко, І. В. Чешко, Л. В. Однодворець, І. М. Пазуха, Структура, дифузійні процеси і магніторезистивні та електрофізичні властивості плівкових матеріалів (Суми: Вид-во СумДУ: 2008).
  7. H. Nabika, K. Akamatsu, M. Mizuhata, А. Kajinami, and S. Deki, J. Mater. Chem., 208: 244 (2000).
  8. M. Kitada, J. Magn. Magn. Mater., 208: 244 (2000). Crossref
  9. H. F. Yan, Y. X. Shen, H. B. Guo, and B. X. Liu, J. Phys. Condens. Matter, 19: 026219 (2007). Crossref
  10. І. В. Чешко, І. Ю. Проценко, Металлофиз. новейшие технол., 31, № 7: 963 (2009).
  11. K. Yamamoto and M. Kitada, Thin Solid Films, 263: 111 (1995). Crossref
  12. G. H.Yang, K. W.Geng, F. Zeng, and F. Pan, Thin Solid Films, 484: 283 (2005). Crossref
  13. O. F. Bakkaloglu and I. H. Karahan, Turk. J. Phys., 25: 27 (2001).
  14. K. Wakoh, T. Hihara, T. J. Konno, K. Sumiyama, and K. Suzuki, Mater. Sci. Eng. A, 217–218: 326 (1996). Crossref
  15. P. Gorria, D. Martinez-Blanco, J. A. Blanco, M. J. Perez, M. A. Gonzalez, and J. Campo, Physica B, 384: 336 (2006). Crossref
  16. M. N. Baibich, J. M. Broto, A. Fert, F. Nguyen Van Dau, F. Petroff, P. Eitenne, G. Creuzet, A. Friederich, and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett., 61: 2472 (1988). Crossref
  17. F. Petroff, A. Barthelemy, D. H. Mosca, D. K. Lottis, A. Fert , P. A. Schroeder, W. P. Pratt, R. Loloee, and S. Lequien, Phys. Rev. B, 44: 5355 (1991). Crossref
  18. D. H. Mosca, F. Petroff, A. Fert, P. A. Schroeder, W. P. Pratt, Jr., and R. Laloee, J. Magn. Magn. Mater., 94: L1 (1991). Crossref
  19. S. S. P. Parkin, N. More, and K. P. Roche, Phys. Rev. Lett., 64: 2304 (1990). Crossref
  20. D. H. Mosca, A. Barthelemy, F. Petroff, A. Fert, P. A. Schroeder, W. P. Pratt, Jr., R. Laloee, and R. Cabanel, J. Magn. Magn. Mater., 93: 480 (1991). Crossref
  21. A. Fert, A. Barthelemy, P. Etienne et al., J. Magn. Magn. Mater., 104–107: 1712 (1992). Crossref
  22. C. P. O. Treutler, Sens. Actuators A, 91: 2 (2001). Crossref
  23. T. Duenas, A. Sehrbrock, M. Lohndorf, A. Ludwig, J. Wecker, P. Grunberg, and E. Quandt, J. Magn. Magn. Mater., 242–245: 1132 (2002). Crossref
  24. L. Romashev, A. Rinkevich, A. Yuvchenko, and A. Burkhanov, Sens. Actuators A, 91: 30 (2001). Crossref
  25. H. Zhang and W. Wang, Microsystem Technol., 9: 436 (2003). Crossref
  26. С. І. Воробйов, А. О. Степаненко, А. М. Чорноус, Ю. М. Шабельник, Металлофиз. новейшие технол., 31, № 6: 837 (2009).
  27. І. Ю. Проценко, А. М. Чорноус, С. І. Проценко, Прилади та методи дослідження плівкових матеріалів (Суми: Вид-во СумДУ: 2007).
  28. М. Г. Демиденко, С. И. Проценко, Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments: Сб. трудов ІХ Международной научно-практической конференции (Москва: РУДН: 2010), с. 379.
  29. Л. А. Чеботкевич, Ю. Д. Воробьев, И. Н. Буркова, А. В. Корнилов, Физ. мет. металловед., 89, № 3: 56 (2000).
  30. В. Б. Лобода, В. О. Кравченко, Ю. О. Шкурдода, Ж. нано- та електрон. фіз., 1, № 2: 21 (2009).
  31. K.-M. H. Lenssen, H. W. van Kesteren, Th. G. S. M. Rijks, J. C. S. Kools, M. C. de Nooijer, R. Coehoorn, and W. Folkerts, Sens. Actuators A, 60: 90 (1997). Crossref
  32. Н. П. Лякишев, Диаграммы состояния двойных металлических систем (Москва: Машиностроение: 1996).
  33. С. С. Горелик, Л. Н. Расторгуев, Ю. А. Скаков, Рентгенографический и электронографический анализ металлов (Москва: ГНТИ: 1963).
  34. А. И. Кузьменко, Т. А. Прокофьева, И. Е. Проценко, А. В. Яременко, Известия Акад. наук. Серия: Физическая, 50, № 8: 1590 (1986).
  35. Г. И. Фролов, В. С. Жигалов, В. К. Мальцев, Физ. твердого тела, 42, № 2: 326 (2000).
  36. С. І. Проценко, І. В. Чешко, Д. В. Великодний, І. М. Пазуха, Л. В. Однодворець, І. Ю. Проценко, О. В. Синашенко, Успехи физ. мет., 8, № 4: 247 (2007).
  37. О. В. Сынашенко, Д. Н. Кондрахова, И. Е. Проценко, Ж. нано- та електрон. фіз., 2, № 4: 96 (2010).
  38. С. І. Проценко, Л. В. Однодворець, І. В. Чешко, Вісник СумДУ. Серія: Фізика, математика, механіка, 1: 22 (2008).
  39. С. И. Проценко, И. В. Чешко, А. Н. Чорноус, Ю. М. Шабельник, ‘HighMatTech–2011’: Материалы 3-й Международной конференции (Киев: 2011), с. 257.
  40. I. Bakonyi and L. Peter, Prog. Mater. Sci., 55: 107 (2010). Crossref

© 2013–2018 «ІМФ НАН України»