Микроструктура и свойства доэвтектического силумина, обработанного сильноточными импульсными электронными пучками

Ю. Ф. Иванов$^{1,2}$, Д. В. Загуляев$^{3}$, С. А. Невский$^{3}$, В. Е. Громов$^{3}$, В. Д. Сарычев$^{3}$, А. П. Семин$^{3}$

$^1$Институт сильноточной электроники СО РАН, просп. Академический, 2/3, 634055 Томск, РФ
$^2$Национальный исследовательский Томский политехнический университет, просп. Академический, 2/3, 634055 Томск, РФ
$^3$Сибирский государственный индустриальный университет, ул. Кирова, 42, 654007 Новокузнецк, РФ

Получена: 26.03.2019; окончательный вариант — 17.08.2019. Скачать: PDF logoPDF

Методами современного физического материаловедения исследованы структурно-фазовые состояния, микротвёрдость и трибологические свойства доэвтектического силумина после электронно-пучковой обработки. Объектом исследования являлся доэвтектический силумин марки АК10М2Н с содержанием 87,88 вес.% Al и 11,1 вес.% Si как главных компонентов. Поверхность силумина подвергалась электронно-пучковой обработке в шести различных режимах, отличающихся плотностью энергии пучка электронов. Измерения микротвёрдости модифицированных поверхностных слоёв силумина позволили определить три оптимальных режима воздействия (с плотностями энергии пучка электронов 25, 30 и 35 Дж/см$^{2}$), при которых микротвёрдость повергнутых модификации слоёв превышает микротвёрдость литого силумина: 0,86 ± 0,041 ГПа — литое состояние; 0,93 ± 0,052 ГПа — для 25 Дж/см$^{2}$; 0,97 ± 0,071 ГПа — для 30 Дж/см$^{2}$; 0,96 ± 0,103 ГПа — для 35 Дж/см$^{2}$. Обнаружено, что электронно-пучковая обработка с оптимальными параметрами приводит к формированию поверхности, механические и трибологические характеристики которой значительно превышают соответствующие значения для силумина литого состояния. Данные атомно-силовой микроскопии коррелируют с результатами по микротвёрдости. Обработанные по представленным режимам образцы характеризуются мелкозернистой ячеистой структурой, а также имеют наименьшую шероховатость обработанного слоя (17–33 нм) и подложки (45–57 нм) по сравнению с другими режимами. Установлено, что в обработанном слое формируется мелкозернистая, градиентная, ячеистая структура, которая по мере удаления от поверхности обработки превращается в структуру смешанного типа. Толщина гомогенизированного слоя варьируется в зависимости от параметров электронно-пучковой обработки и достигает максимальных значений 100 мкм при плотности энергии 35 Дж/см$^{2}$. Обнаружено, что модифицированный слой свободен от интерметаллидов и состоит из нанокристаллической структуры ячеистой кристаллизации. Высказано предположение, что эти два фактора являются причиной повышенных механических и трибологических характеристик модифицированного слоя. Предложен механизм образования структуры ячеистой и столбчатой кристаллизации, который заключается в возникновении термокапиллярной неустойчивости на границе раздела «испарённое вещество/жидкая фаза». Разработана математическая модель теплового воздействия электронного пучка на поверхностные слои силумина.

Ключевые слова: физическая природа, математические модели, структура, свойства, доэвтектический силумин, электронно-пучковая обработка, фазовый состав.

Citation: Yu. F. Ivanov, D. V. Zagulyaev, S. A. Nevskii, V. Е. Gromov, V. D. Sarychev, and A. P. Semin, Microstructure and Properties of Hypoeutectic Silumin Treated by High-Current Pulsed Electron Beams, Usp. Fiz. Met., 20, No. 3: 447–484 (2019); doi: 10.15407/ufm.20.03.447


Цитированная литература (59)  
    1. A. B. Belov, O. A. Bytsenko, A. V. Krainikov, A. F. Lvov, A. S. Novikov, A. G. Paikin, A. D. Teriaev, D. A. Teriaev, K. I. Tvagenko, V. A. Shulov, and V. I. Engelko, Sil’notochnyye Impul’snyye Ehlektronnyye Puchki dlya Aviatsionnogo Dvigatelestroeniya [High-Current Pulsed Electron Beams for Aircraft Engine Construction] (Moscow: Dipak: 2012) (in Russian).
    2. V. Engelko, B. Yatsenko, G. Mueller, and Y. Bluhm, Vacuum, 62: 211 (2001). Crossref
    3. G. E. Ozur, D. I. Proskurovsky, V. P. Rotshtein, and A. B. Markov, Laser and Part. Beams, 21: 157 (2003). Crossref
    4. V. P. Rotshtein, Yu F. Ivanov, D. I. Proskurovsky, K. V. Karlik, I. A. Shulepov, and A. B. Markov, Surf. Coat. Tech., 180–181: 382 (2004). Crossref
    5. D. I. Proskurovsky, V. P. Rotshtein, G. E. Ozur, Yu F. Ivanov, and A. B. Markov, Surf. Coat. Tech., 125: 49 (2000). Crossref
    6. P. Wenhai, H. Shengzhi, C. Jun, L. Wei, Z. Limin, D. Jun, Int. J. Refr. Met. Hard Mat., 78: 233 (2019). Crossref
    7. Y. Hangyu, C. Yuyong, W. Xiaopeng, and K. Fantao, J. Alloys and Comp., 750: 617 (2018). Crossref
    8. J. Wei, W. Langping, and W. Xiaofeng, Nucl. Inst. Meth. Phys. Res. B, 436: 63 (2018). Crossref
    9. P. Petrov, D. Dechev, N. Ivanov, T. Hikov, S. Valkov, M. Nikolova, E. Yankov, S. Parshorov, R. Bezdushnyi, and A. Andreeva, Vacuum, 154: 264 (2018). Crossref
    10. B. Gao, N. Xu, and P. Xing, Mat. Lett., 237: 180 (2019). Crossref
    11. Z. Chen, Y. Liu, H. Wu, W. Zhang, W. Guo, H. Tang, and N. Liu, Appl. Surf. Sci., 357: 2347 (2015). Crossref
    12. P. Yu, M. Yan, D. Tomus, C. A. Brice, C. J. Bettles, B. Muddle, and M. Qian, Mat. Charact., 143: 43 (2018). Crossref
    13. B. Gao, S. Hao, J. Zou, W. Wu, G. Tu, and C. Dong, Surf. Coat. Tech., 201: 6297 (2007). Crossref
    14. Y. Qin, C. Dong, X. Wang, S. Hao, A. Wu, J. Zou, and Y. Liu, J. Vac. Sci. Tech. A, 21: 1934 (2003). Crossref
    15. J. Zou, Y. Qin, C. Dong, X. Wang, W. Almin, and S. Hao, J. Vac. Sci. Tech. A, 22: 545 (2004). Crossref
    16. Yu. F. Ivanov, V. Е. Gromov, S. V. Konovalov, D. V. Zagulyaev, Е. А. Petrikova, and А. P. Semin, Usp. Fiz. Met., 19, No. 2: 195 (2018). Crossref
    17. D. Lu, B. Gao, G. Zhu, J. Lv, and L. Hu, High Temp. Mat. Process., 36: 97 (2017). Crossref
    18. B. Gao, L. Hu, S. Li, Y. Hao, Y. Zhang, and G. Tu, Appl. Surf. Sci., 346: 147 (2015). Crossref
    19. J. Feng, H. Wu, J. He, B. Zhang, Mat. Charact., 54: 99 (2005). Crossref
    20. V. D. Sarychev, S. A. Nevskii, S. V. Konovalov, A. Yu. Granovskii, and V. E. Gromov, Mat. Res. Express, 6: 026540 (2019). Crossref
    21. S. Biamino, A. Penna, U. Ackelid, S. Sabbadini, and O. Tassa, Intermetallics, 19: 776 (2011). Crossref
    22. D. V. Zagulyaev, S. V. Konovalov, V. E. Gromov, A. M. Glezer, Yu. F. Ivanov, and R. V. Sundeev, Mat. Lett., 229: 377 (2018). Crossref
    23. F. Kh. Mirzoev, V. Ya. Panchenko, and L. A. Shelepin, Phys.-Usp., 39: 1 (1996). Crossref
    24. E. B. Levchenko and A. L. Chernyakov, Sov. Phys. JETP, 54: 102 (1981).
    25. E. B. Levchenko and A. L. Chernyakov, Fiz. Kh. Obr. Mat., 1: 129 (1983) (in Russian).
    26. M. Takashima, J. Phys. Soc. Japan, 50: 2745 (1981). Crossref
    27. E. A. Ryabitskii, Fluid Dynamics, 27: 313 (1992). Crossref
    28. M. G. Velarde, P. L. Garcia-Ybarra, and J. L. Castillo, Phys. Chem. Hydr., 9: 387 (1987).
    29. I. Hashim and S. K. Wilson, Z. angew. Math. Phys., 50: 546 (1999). Crossref
    30. V. D. Sarychev, S. A. Nevskii, S. V. Konovalov, I. A. Komissarova, and E. V. Chermushkina, IOP Conf. Ser. Mater. Sci. Eng., 91: 012028 (2015). Crossref
    31. S. V. Konovalov, X. Chen, V. D. Sarychev, S. A. Nevskii, V. E. Gromov, and M. Trtica, Metals, 7: 1 (2017). Crossref
    32. Yu. F. Ivanov, O. V. Krysina, M. Rygina, E. A. Petrikova, A. D. Teresov, V. V. Shugurov, O. V. Ivanova, and I. A. Ikonnikova, High. Temp. Mat. Process., 18, No. 4: 311 (2014). Crossref
    33. Yu. F. Ivanov and N. N. Koval, Nizkoehnergeticheskie Ehlektronnyye Puchki Submillisekundnoy Dlitel’nosti Vozdeistviya: Poluchenie i Nekotoryye Aspekty Primeneniya v Oblasti Materialovedeniya [Low-Energy Electron Beams of Submillisecond Exposure Duration: Production and Some Aspects of Application in Materials Science] (Ed. A. I. Potekaeva) (Tomsk: Publishing House of NTL: 2007) (in Russian).
    34. K. V. Sosnin, V. E. Gromov, and Yu. F. Ivanov, Struktura, Fazovyy Sostav i Svoistva Titana Posle Ehlektrovzryvnogo Legirovaniya Ittriem i Ehlektronno-Puchkovoy Obrabotki [Structure, Phase Composition and Properties of Titanium after Electroexplosive Doping with Yttrium and Electron Beam Processing] (Novokuznetsk: Poligrafist: 2015) (in Russian).
    35. C. A. Schuh, Mater. Today, 9: 32 (2007). Crossref
    36. Modul’ Obrabotki Izobrazheniy Image Analysis P9: Spravochnoye Rukovodstvo [Image Analysis P9: Reference Guide] (Zelenograd: NT-MDT: 2016) (in Russian).
    37. Sherokhovatost’ Poverkhnosti. Terminy i Opredeleniya [Surface Roughness. Terms and Definitions.]: GOST 25142-82 (1982) (in Russian).
    38. Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials (Ed. Challa S. S. R. Kumar) (Berlin–Heidelberg: Springer-Verlag: 2014). Crossref
    39. Transmission Electron Microscopy (Eds. B. Carter and D. B. Williams) (Springer International Publishing Switzerland: 2016). Crossref
    40. R. F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM (Springer International Publishing Switzerland: 2016). Crossref
    41. A. G. Prigunova, N. A. Belov, and Yu. N. Taran, Siluminy. Atlas Mikrostruktur i Fraktogramm Promyshlennykh Splavov [Silumins. Atlas of Microstructures and Fractographs of Industrial Alloys] (Moscow: MISiS: 1996) (in Russian).
    42. Yu. V. Milman, S. I. Chugunova, I. V. Goncharova, and А. А. Golubenko, Usp. Fiz. Met., 19, No. 3: 271 (2018). Crossref
    43. A. P. Laskovnev, Yu. F. Ivanov, amd E. A. Petrikova, Modifikatsiya Struktury i Svoistv Ehvtekticheskogo Silumina Ehlektronno-Ionno-Plazmennoy Obrabotkoy [Modification of the Structure and Properties of Eutectic Silumin by Electron–Ion–Plasma Treatment] (Minsk: Navuka: 2013) (in Russian).
    44. S. V. Panin, A. E. Kolgachev, Yu. I. Pochivalov, V. E. Panin, and I. G. Goriacheva, Fizicheskaya Mezomekhanika, 8: 101 (2005) (in Russian).
    45. Yu. F. Ivanov and N. N. Koval, Struktura i Svoistva Perspektivnykh Metallicheskikh Materialov [Structure and Properties of the Promising Metallic Materials] (Ed. A. Potekaev) (Tomsk: Publishing House of NTL: 2007), Ch. 13, p. 345 (in Russian).
    46. V. Rotshtein, Yu. Ivanov, and A. Markov, Materials Surface Processing by Directed Energy Techniques (Ed. Y. Pauleau) (Amsterdam: Elsevier Science: 2006), Ch. 6, p. 205.
    47. Yu. A. Denisova, Yu. F. Ivanov, and O. V. Ivanova, Ehvolyutsiya Struktury Poverkhnostnogo Sloya Stali, Podvergnutoy Ehlektronno-Ionno-Plazmennym Metodam Obrabotki [Evolution of the Structure of the Steel Surface Layer Subjected to Electron–Ion–Plasma Processing Methods] (Eds. N. N. Koval and Yu. F. Ivanov) (Tomsk: Publishing House of NTL: 2007).
    48. Yu. Ivanov, K. Alsaraeva, V. Gromov, S. Konovalov, and O. Semina, Mat. Sci. Technol., 31: 1523 (2015). Crossref
    49. N. A. Belov, S. V. Savchenko, and A. V. Hvan, Fazovyy Sostav i Struktura Siluminov [Phase Composition and Structure of Silumins] (Moscow: MISiS: 2008) (in Russian).
    50. V. S. Zolotorevskiy and N. A. Belov, Metallovedenie Liteinykh Alyuminievykh Splavov [Metal Science of Cast Aluminium Alloys] (Moscow: MISiS: 2005) (in Russian).
    51. N. A. Belov, Fazovyy Sostav Alyuminievykh Splavov [Phase Composition of Aluminium Alloys] (Moscow: MISiS: 2009) (in Russian).
    52. G. B. Stroganov, V. A. Rotenberg, and G. B. Gershman, Splavy Alyuminiya s Kremniem [Aluminium Alloys with Silicon] (Moscow: Metallurgiya: 1977) (in Russian).
    53. A. P. Babichev, Fizicheskie Velichiny: Spravochnik [Physical Quantities: Handbook] (Eds. I. S. Grigorieva and E. Z. Meilikhov) (Moscow: Energoatomizdat: 1991) (in Russian).
    54. D. Brandon and U. Kaplan, Mikrostruktura Materialov. Metody Issledovaniya i Kontrolya [Microstructure of Materials. Methods of Study and Control] (Moscow: Tekhnosfera: 2006) (in Russian).
    55. B. Cheynet, J.-D. Dubois, and M. Milesi, Technique de l’Ingenier, Traité Materiaux Metalliques (Strasbourg: Imprimerie Strasbourgeoise: 1993), p. M 64-1 (in French).
    56. A. Samarskii, P. N. Vabishchevich, O. P. Iliev, and A. G. Churbanov, Int. J. Heat Mass Transfer., 36: 4095 (1993). Crossref
    57. Y. F. Ivanov, E. A. Petrikova, O. V. Ivanova, I. A. Ikonnikova, and A. V. Tkachenko, Rus. Phys. J., 58: 478 (2015). Crossref
    58. E. Aursand, S. H. Davis, and T. Ytrehus, J. Fluid Mech., 852: 283 (2018). Crossref
    59. V. A. Urpin and D. G. Yakovlev, Zh. Tekhn. Fiz., 59, No. 2: 19 (1989) (in Russian).