В обзорной статье содержатся результаты исследований закономерностей и особенностей вторичной ионной эмиссии при бомбардировке металлических поверхностей самыми лёгкими ионами — протонами, которые обладают наиболее низкими коэффициентами распыления и, следовательно, вызывают минимальную эрозию исследуемой поверхности. Интерес к изучению закономерностей и особенностей протонной масс-спектрометрии вызван поиском новых физических возможностей повышения выхода вторичных ионов с целью улучшения аналитических характеристик метода масс-спектрометрии вторичных ионов. В работе приведены результаты сравнительного систематического исследования процессов эмиссии вторичных ионов переходных металлов, бинарных сплавов и соединений, отличающихся электронной структурой, фазовым и стехиометрическим составами, при бомбардировке протонами и ионами аргона. Достоверно установлено, что процессы вторичной ионной эмиссии при бомбардировке протонами подчиняются основным закономерностям, выявленным при бомбардировке ионами инертных газов, в части зависимостей от атомного номера металлов и концентрационных соотношений в бинарных сплавах и соединениях, но принципиально отличаются аномально высокой вероятностью ионизации частиц, распылённых из металлических мишеней. Показано, что в случае бомбардировки протонами многокомпонентных мишеней, наблюдается частичное подавление структурных, фазовых и других матричных эффектов, существенных при бомбардировке ионами инертных газов. Эффекты усиления вторичной ионной эмиссии под влиянием адсорбции и имплантации водорода из бомбардирующего пучка протонов связаны с образованием поверхностных связей $Me$–H и количественно объяснены в рамках моделей, учитывающих разрыв химических связей атомов металла и адсорбата в процессе распыления и последующей ионизации распыляющихся атомов металла.